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曽山 和彦; Cao, B.*
JAERI-Research 2003-031, 42 Pages, 2004/03
JAERI-Research-2003-031.pdf:1.28MB
中性子多層膜ミラーからの散漫散乱を解析・評価するため、DWBA理論に基づくシミュレーションコードの開発を行った。本コードは、ロッキングスキャン,検出器スキャン,オフセットスキャンの3種類の走査タイプを想定した解析モードを有している。さらにNi/Ti多層膜ミラーに関して、JRR-3でのロッキングスキャンによる実験とモデルについての理論計算との比較,検討を行い、良い一致を見た。
Ulyanenkov, A.*; 松尾 隆二*; 表 和彦*; 稲葉 克彦*; 原田 仁平*; 石野 雅彦; 西井 正信; 依田 修
Journal of Applied Physics, 87(10), p.7255 - 7260, 2000/05
被引用回数：33 パーセンタイル：76.29(Physics, Applied)イオンビームスパッタ法により、Si基板及びガラス基板上にMo/Si多層膜を積層させた。X線の共鳴散乱及び散漫散乱回折による多層膜の界面構造測定を行った。界面粗さの縦方向及び横方向の相関長を含むDWBA法により、測定結果を定性的定量的に評価し、周期性及び界面構造の詳細を導いた。拡散層の厚さは、蒸着物質に依存し、重いMoはSi層に深く埋め込まれることがわかった。また、基板材料の違いにより、相関長とフラクタル次元に差がでた。Si基板上の多層膜では界面が滑らかで短周期の変動を持ち、一方のガラス基板では、かなり大きな界面粗さを持ち、相関長がほとんどないことがわかった。これらの相違は、多層膜反射鏡の反射特性に影響を及ぼすもので、X線の散乱から得られる界面粗さの相関長の情報は、多層膜の構造評価に極めて重要である。
前田 裕司; 山川 浩二*; 松本 徳真*; 春名 勝次*; 加藤 輝雄; 小野 文久*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 97, p.491 - 494, 1995/00
被引用回数：0 パーセンタイル：0.01(Instruments & Instrumentation)放射光を利用して急冷した高純度銅単結晶のX線散漫散乱の測定を行い、電子顕微鏡では観測が困難であった空孔型の転位ループを観測した。急冷後の2次欠陥の観測は主として電子顕微鏡で精力的に行われて来た。しかしFCC金属では銅だけが2次欠陥の観測に成功していない。それは2次欠陥のサイズが小さく電顕での観察が困難である、又ガス不純物に空孔が捕獲され2次欠陥を形成するに至っていない等の理由が考えられる。放射光は高エネルギー物理学研究所のRL-4Cを利用し、逆格子点(111)の周りの散漫散乱の測定を室温で行なった。その結果、空孔型転位ループからの散漫散乱を観測した。しかしこの散乱はシャープで、強度は非常に強く、転位ループの散漫散乱の理論計算で予測されていた「caustics」散乱と考えられる。転位ループのサイズは約10
と推測される。
橋本 真也*; 岩崎 博*
Radiation Effects and Defects in Solids,Vol. 124, p.147 - 171, 1992/00
多元系合金(N元素)中にはN(N-1)種類の独立な原子対が存在している。結晶学的には、それぞれの対種がいかなる存在状態にあるかを求めることが大切である。しかしその最も直接的研究手段である回折実験において得られる結果(強度データ)は、それらの対種からの寄与の重ねあわせであり、従来の方法では、このような研究は不可能であった。シンクロトロン放射光を利用するとX線異常散乱現象を有効に使うことが出来、数種数の異なる原因から生じる散乱強度を個々別々に分離して得られると予想された。これを実験的にCu
NiZn三元合金に適用して、明確な結論を得た。この結果をもとに、数遍の論文を報告しているが、今回この総まとめをレビー形式として報告する。
舩橋 達
JAERI-M 87-166, 107 Pages, 1987/10
中性子散乱日米科学技術協力により、昭和60~61年度の間に、オークリッジ国立研究所に設置した広角中性子回折装置を利用してなされた研究活動をまとめたものである。昭和60年度はこの協力研究が本格化に入った時期であり、昭和61年11月の突然のHFIRの停止に到るまでの期間に、温度急変用の付属機器を利用した相転移機構の研究、単結晶の2次元回折の研究などが行われた。このレポートには、装置に関する2編の報告と、11編の中性子散乱実験を収録している。
土井 健治; 正木 典夫; 鎌田 耕治
Journal of the Physical Society of Japan, 26(1), p.211 - 211, 1969/00
被引用回数：0抄録なし
土井 健治
Acta Crystallographica, 14(7), p.793 - 794, 1961/00
被引用回数：2抄録なし
